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Phenom XL G3 飛納臺(tái)式掃描電鏡-自動(dòng)化質(zhì)控解決方案是 Thermo Scientific 旗下的旗艦級(jí)臺(tái)式掃描電鏡平臺(tái),基于飛利浦—FEI—賽默飛近 80 年電鏡技術(shù)積淀打造。其穩(wěn)定可靠、易部署、自動(dòng)化程度高,專為 生產(chǎn)質(zhì)控、高通量檢測(cè)與研發(fā)場(chǎng)景 而設(shè)計(jì)。
大倉(cāng)室設(shè)計(jì),可容納 36 個(gè)樣品
1 分鐘完成裝樣到出圖
自動(dòng)化、AI 分析、能譜一體化
3000h CeB6 燈絲,平均 5 年更換一次
適用于金屬、電子陶瓷、半導(dǎo)體、粉末、濾膜、電池材料等多行業(yè)。

從飛利浦電鏡部門到 FEI,再到 Thermo Scientific,Phenom 系列代表了領(lǐng)(ling)先的電鏡設(shè)計(jì)與制造標(biāo)準(zhǔn)。
1939 年:Le Poole 提出電鏡構(gòu)想
1944 年:150kV 電子顯微鏡問(wèn)世
1972 年:第1臺(tái)飛利浦 SEM
2006 年:首(shou)臺(tái)臺(tái)式 SEM —— Phenom 誕生
至今:形成臺(tái)式 CeB6 / 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 / 行業(yè)專用電鏡多線產(chǎn)品矩陣

內(nèi)置減震系統(tǒng)
對(duì)環(huán)境要求低,不用暗室、不用水冷
適用于生產(chǎn)車間、QC 實(shí)驗(yàn)室、高樓層辦公區(qū)
甚至支持車載、野外現(xiàn)場(chǎng)使用
曾參與冰島火山口、西班牙無(wú)人島等地質(zhì)科考任務(wù),驗(yàn)證其jiduan環(huán)境可靠性。


高亮度六硼化鈰(CeB6)燈絲
平均 5 年更換一次,7×24 小時(shí)連續(xù)運(yùn)行無(wú)壓力
維護(hù)成本極低,適合產(chǎn)線與長(zhǎng)期實(shí)驗(yàn)使用
對(duì)比普通金屬燈絲壽命多為 50–200 小時(shí),性價(jià)比優(yōu)勢(shì)明顯。

Phenom XL G3 采用全新真空結(jié)構(gòu) + 升級(jí)背散射探測(cè)器 (BSD):
低電壓(2–5 kV)下信噪比更高
對(duì)非導(dǎo)電與敏感樣品無(wú)需噴金
自動(dòng)化流程中,成像效率提升 約 30%
適用樣品: 纖維、紙張、涂層、聚合物、電子陶瓷、CMOS、太陽(yáng)能電池等。

太陽(yáng)能電池金字塔結(jié)構(gòu)
放大倍數(shù):10,000X
2kV,未噴金,二次電子像
可以清晰看到金字塔結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)
電子陶瓷
放大倍數(shù):1,000X
5kV,背散射電子像
可以觀測(cè)到陶瓷內(nèi)晶粒大小和空隙
CMOS 探測(cè)器
放大倍數(shù):5,000X
2kV,二次電子像
可以清晰看到像素單元及其表面污染物

掃描電鏡下未噴金的纖維(上圖),未噴金的紙張(下圖)
檢測(cè)通量比傳統(tǒng)電鏡提升 5–10 倍。
ParticleMetric:顆粒統(tǒng)計(jì)
FiberMetric:纖維尺寸分析
批量輸出標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告,實(shí)現(xiàn)真正量化質(zhì)控

從“看"到“算":專業(yè)的自動(dòng)化分析軟件,ParticleMetric (顆粒統(tǒng)計(jì))、Fiber- Metric (纖維統(tǒng)計(jì)) 等專用軟件。自動(dòng)化完成需要人工數(shù)小時(shí)才能完成的顆粒 度、形貌、尺寸分布等統(tǒng)計(jì)工作,輸出標(biāo)準(zhǔn)化報(bào)告,實(shí)現(xiàn)真正的量化品控。
支持 Python 腳本
可對(duì)接生產(chǎn)線、LIMS 系統(tǒng)
支持夜間無(wú)人值守批量檢測(cè)

“深度集成,隨需而變":開放的自動(dòng)化接口,提供 Python 腳本控制 (PPI),可以無(wú) 縫集成到客戶現(xiàn)有的自動(dòng)化產(chǎn)線和 LIMS 系統(tǒng)中。精準(zhǔn)的自動(dòng)化馬達(dá)臺(tái),結(jié)合軟件 腳本,一次可容納 36 個(gè)樣品,打造“無(wú)人值守的質(zhì)檢工廠",自定義設(shè)定程序,在夜 間或休息時(shí)間對(duì)大批量樣品進(jìn)行自動(dòng)拍照和分析,提高設(shè)備利用率。
一 張圖看全貌,多點(diǎn)分析無(wú)遺漏
在晶圓、濾膜、金屬斷口等大樣品上,自動(dòng)獲取全景高清圖,并對(duì)預(yù)設(shè)的關(guān)鍵點(diǎn)位進(jìn)行高倍率分析,確保檢測(cè)全面。

無(wú)需切換軟件,不丟數(shù)據(jù),易培訓(xùn),售后統(tǒng)一。
成像與能譜同步采集
實(shí)時(shí)彩色元素分布顯示
適用于金屬、陶瓷、電池、涂層、半導(dǎo)體等材料
ChemiSEM 彩色成像技術(shù)
自動(dòng)識(shí)別物相
輸出相組成及面積分?jǐn)?shù)
對(duì)復(fù)雜材料(如電池正極、陶瓷、冶金)特別友好


ChemiPhase 物相分析軟件
基于像素級(jí)定量元素分析
自動(dòng)識(shí)別多個(gè)材料相

Phenom MAPS 大面積圖像拼接

光學(xué)顯微鏡:3–16×
電子顯微鏡:200,000×
CeB6 鏡筒燈絲
加速電壓:2/5/10/15/20 kV(可連續(xù)調(diào)節(jié))
真空:低-中-高模式
分辨率:優(yōu)于 8 nm
抽真空時(shí)間:30 秒
大倉(cāng)室,可支持大尺寸樣品
最多容納 36 份樣品自動(dòng)檢測(cè)
金屬材料分析 / 冶金質(zhì)檢
電池與材料研發(fā)
電子陶瓷 / 半導(dǎo)體 / 元器件
粉末材料篩選
濾膜顆粒物、纖維統(tǒng)計(jì)
表面研究、涂層分析
高校與科研機(jī)構(gòu)
國(guó)際品牌技術(shù)傳承(飛利浦 → FEI → 賽默飛)
真正的工業(yè) 4.0 級(jí)自動(dòng)化臺(tái)式電鏡
支持 AI、Python、無(wú)人值守檢測(cè)
全套能譜 + 成像一體化解決方案
大樣品、大通量質(zhì)控
平均5年換燈絲,使用成本極低
傳真:
地址:上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng) T5,705 室
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